测试目的及应用场景

原位高温 X 射线衍射（XRD）技术用于在可控升温条件下实时监测材料的物相组成、晶体结构及晶格参数变化过程，揭示材料在加热、反应或气氛作用下的结构演变规律。该技术可用于研究相变行为、结晶过程、热稳定性、晶粒生长及反应前后结构变化，为材料设计、工艺优化及机理分析提供直接依据，是高温条件下结构表征的重要手段。该技术广泛适用于催化材料、金属氧化物、陶瓷材料、矿物材料、能源材料及功能材料等体系，可应用于材料焙烧过程研究、晶相转变分析、热处理行为表征、反应过程结构跟踪及高温稳定性评价等科研与检测场景。特别适合用于催化剂活化、载体结构变化、氧化还原过程及高温反应条件下的原位结构研究。

仪器型号

日本理学：SmartLab Automated Multipurpose X‑ray Diffractometer

样品要求

1｜样品类型

适用于粉末、块体、薄膜、涂层及片状材料等多种样品形态。常见样品包括催化剂粉体、金属材料、陶瓷材料、矿物材料、能源材料及复合材料等。

2｜样品用量

粉末样品建议提供 100 mg 以上，以满足铺样、重复测试及条件优化需求。块体 / 薄膜样品建议尺寸不小于 10 mm × 10 mm，表面应尽量平整。对于贵重或特殊样品，可根据具体测试需求适当减少用量。

3｜粒径要求

粉末样品建议研磨均匀、颗粒细小，尽量避免明显团聚或大颗粒存在。粒径不均可能影响衍射峰形、峰强及测试重复性。通常建议样品具有较好的均匀性和代表性。