测试目的及应用场景

X射线衍射（XRD）技术用于分析材料的物相组成、晶体结构及微观结构特征，可实现晶体结构解析、物相定性定量分析、晶粒尺寸评估、结晶度判断及晶格参数变化研究。该技术能够为材料组成识别、结构演化分析、性能关联研究及工艺优化提供重要依据，是材料表征与质量分析的重要测试手段。

XRD 广泛适用于单晶、多晶、非晶、纳米材料及复合材料等体系，可应用于催化剂、无机材料、金属材料、能源材料、矿物材料及功能薄膜等领域。常用于材料物相鉴定、结构稳定性分析、反应前后结构变化比较、结晶行为研究及新材料开发等科研与检测场景。

仪器型号

日本理学：SmartLab Automated Multipurpose X‑ray Diffractometer

样品要求

1｜样品类型

适用于粉末、块体、薄膜、涂层及片状材料等多种样品形态。常见样品包括催化剂粉体、金属材料、陶瓷材料、矿物材料、能源材料及复合材料等。

2｜样品用量

粉末样品建议提供 100 mg 以上，以满足铺样、重复测试及条件优化需求。块体 / 薄膜样品：建议尺寸不小于 10 mm × 10 mm，表面应尽量平整。对于贵重或特殊样品，可根据具体测试需求适当减少用量。

3｜粒径要求

粉末样品建议研磨均匀、颗粒细小，尽量避免明显团聚或大颗粒存在。粒径不均可能影响衍射峰形、峰强及测试重复性。通常建议样品具有较好的均匀性和代表性。